IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) - международная конференция по вопросам тестовых структур, изготовленных по микроэлектронной технологии

Конференция IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) проходит c 25 по 28 марта в городе Осака, Япония.

Событие объединит экспертов и специалистов таких направлений, как .

Деловая программа обычно включает несколько потоков или секций и публикуется на сайте мероприятия вместе со списком спикеров. Найти официальный сайт события можно ниже в разделе "Дополнительная информация" или в поисковых системах Яндекс и Google.

Сохранить событие в расписание 

Добавьте конференцию IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013) в расписание, чтобы не потерять важное событие, где встречаются профессионалы нужной вам отрасли. Создавайте свое расписание мероприятий.

Планируете самостоятельную поездку на конференцию IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS 2013)?

Перед посещением уточняйте даты и место проведения на официальных ресурсах и напрямую у организатора  — возможны перенос или изменения. Expomap не является организатором события и не несет ответственности за неточности предоставляемой информации.

Вы - организатор конференции?

Привлекайте участников с помощью рекламных инструментов Expomap! Аудитория сайта - более 300 000 человек в месяц, которые ищут деловые события для решения своих бизнес-задач. Узнать о рекламных возможностях >>>

Анонсы конференций в Telegram